Steckverbinder Mess- und Prüfverfahren DIN EN 61300 Reihe

Die Steckverbinder spielen besonders in moderner Glasfasernetzen mit hohen Bandbreiten und geringen Leistungsbudgets zur Qualitätssicherung eine wichtige Rolle Geringe Bitfehlerraten, z. B. in Übertragungsverfahren wie 10/40/100 Gigabit/s Ethernet, können nur mit einwandfreien Steckverbindungen erreicht werden. Um die Qualität der Steckverbindungen nachzuweisen, bieten sich die optische Inspektion der Steckerendflächen und die Dämpfungsmessung an. Die u. g. Normen sollen sicherstellen, dass die Inspektionen & Messungen von allen Beteiligten gleichermaßen genau durchgeführt werden.

Die DIN EN 61300 besteht aus einer Reihe von Dokumenten, die u. a. auch die Wellenlängenabhängigkeit, transiente Dämpfung, Geometrie und andere Parameter behandeln. Hier sind nur ein Auszug aus dieser Reihe

Inspektion von Steckverbinder-Endflächen

· DIN EN 61300-3-35 „Lichtwellenleiter-Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 3-35: Untersuchungen und Messungen - Visuelle und automatisierte Inspektion der Endflächen von zylindrischen Lichtwellenleiter-Steckverbindern“

Dämpfung

· DIN EN 61300-3-4 "Lichtwellenleiter – Verbindungselemente und passive Bauteile – Grundlegende Prüf- und Messverfahren – Teil 3-4: Untersuchungen und Messungen – Dämpfung

Rückflussdämpfung

· DIN EN 61300-3-6 „Lichtwellenleiter – Verbindungselemente und passive Bauteile –Grundlegende Prüf- und Messverfahren –Teil 3-6: Untersuchungen und Messungen – Rückflussdämpfung

· In der Norm sind 4 Verfahren aufgeführt. Diese vier Messverfahren haben unterschiedliche Eigenschaften und unterschiedliche Anwendungen im Hinblick auf die räumliche Auflösung und die messbare Rückflußdämpung.

o Messung mit einem optischen Reflektometer mit kontinuierlicher Welle (OCWR) (Verfahren 1);

o Messung mit einem optischen Zeitbereichs-Reflektometer (OTDR) (Verfahren 2);

o Messung mit einem optischen Reflektometer mit geringer Kohärenzlänge (OLCR) (Verfahren 3);

o Messung mit einem optischen Reflektometer im Frequenzbereich (OFDR) (Verfahren 4).